3Dイノベーション

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周波数シフト帰還型レーザを用いた計測システム

当社のコア技術「周波数シフト帰還型レーザ(FSFレーザ)を使用した光距離計測技術」を 応用した、新しい計測システムを提供します。

当社の技術は、高精度(1σで50μm以下)、かつ高速(1000点/秒)な距離計測を可能とします。 また専門機関による校正により、非常に高いリニアリティを有するという評価を得ております。 こうした優れた性能を生かした、幅広い計測応用が考えられます。

当社では計測サービスを行っております(出張計測、または計測対象をご送付頂き当社にて計測)。 小規模なサンプル計測であれば無料での対応(デモ)も可能ですので、お気軽にご相談ください。
【光遠隔距離計測システム ODM−F】
FSFレーザの使用により高精度を達成した、1軸の光距離計測装置です。
装置としてだけでなく、レーザ光源や干渉計等をモジュール単位で提供することも可能です。
(右写真:FSFレーザ光源ユニット)

【光遠隔三次元計測システム OCM−A】
当社の光距離計測技術とスキャニング機構を組み合わせた、光遠隔三次元計測装置です。

 

FPGA信号処理技術

当社の光距離計測装置では、周波数ビート信号を解析することで距離値を得ています。こうした解析に必要な信号処理技術を、多目的にも適用できるよう試作開発を実施しております。
ハードウェアとしては、信号処理回路をFPGAに搭載し、高速AD/DAとセットのユニットとして提供しております。
事例として、FMCWレーダへの適用実績があります。詳細についてはご相談ください。
【FPGA信号処理ユニット(高速AD/DA搭載)】
[主な仕様]

(準備中)


 

各種 特注製品

当社の試作開発の経験をもとに、各種の研究・実験用装置、治具を特注製造いたします。
何かお困りのことがございましたら、まずはご相談ください。
以下、特注製品の事例です。
【デジタルディレイジェネレータ】
[主な仕様]
出力チャンネル数:4ch
ディレイパルス幅:2nsec〜10sec
パルス幅:0nsec〜10sec
設定分解能:10psec
外形寸法:320x230x132.5[mm]

【半導体レーザ用短パルスドライバ】
[主な仕様]
出力パルス幅:300psec〜2nsec
立上/立下時間:150psec(typ.)
レーザ駆動電流:700mA(max)
外部トリガー:0〜200MHz
内部トリガー:10kHz〜10MHz
外形寸法:320x230x132.5[mm]

【真空チャンバ(光半導体評価用)】
[主な仕様]
搭載デバイスサイズ:35mm×11mm
真空度(参考値):大気圧比10e-5程度
冷却方法:液体窒素
素子到達温度:≦100K
ビーム径:≦φ25.4mm

【低ノイズ電源ユニット】
[主な仕様]
出力電圧:(正)0〜18V/(負)-18〜0V
出力電流:≦1A
出力精度:±2%
リップルノイズ:≦1mVp-p
外形寸法:≦210x300x100[mm]

 

 

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