3Dイノベーション

	Home      会社概要      製品情報      技術情報      お問い合わせ   周波数シフト帰還型レーザを用いた計測システム 当社のコア技術「周波数シフト帰還型レーザ（ＦＳＦレーザ）を使用した光距離計測技術」を 応用した、新しい計測システムを提供します。 当社の技術は、高精度(1σで50μｍ以下)、かつ高速(1000点／秒)な距離計測を可能とします。 また専門機関による校正により、非常に高いリニアリティを有するという評価を得ております。 こうした優れた性能を生かした、幅広い計測応用が考えられます。 当社では計測サービスを行っております(出張計測、または計測対象をご送付頂き当社にて計測)。 小規模なサンプル計測であれば無料での対応(デモ)も可能ですので、お気軽にご相談ください。 【光遠隔距離計測システム　ＯＤＭ−Ｆ】 ＦＳＦレーザの使用により高精度を達成した、１軸の光距離計測装置です。 装置としてだけでなく、レーザ光源や干渉計等をモジュール単位で提供することも可能です。 （右写真：FSFレーザ光源ユニット） 【光遠隔三次元計測システム　ＯＣＭ−Ａ】 当社の光距離計測技術とスキャニング機構を組み合わせた、光遠隔三次元計測装置です。   ＦＰＧＡ信号処理技術 当社の光距離計測装置では、周波数ビート信号を解析することで距離値を得ています。こうした解析に必要な信号処理技術を、多目的にも適用できるよう試作開発を実施しております。 ハードウェアとしては、信号処理回路をＦＰＧＡに搭載し、高速AD/DAとセットのユニットとして提供しております。 事例として、ＦＭＣＷレーダへの適用実績があります。詳細についてはご相談ください。 【FPGA信号処理ユニット（高速AD/DA搭載）】 [主な仕様] （準備中）   各種 特注製品 当社の試作開発の経験をもとに、各種の研究・実験用装置、治具を特注製造いたします。 何かお困りのことがございましたら、まずはご相談ください。 以下、特注製品の事例です。 【デジタルディレイジェネレータ】 [主な仕様] 出力ﾁｬﾝﾈﾙ数：4ch ﾃﾞｨﾚｲﾊﾟﾙｽ幅：2nsec〜10sec ﾊﾟﾙｽ幅：0nsec〜10sec 設定分解能：10psec 外形寸法：320x230x132.5[mm] 【半導体レーザ用短パルスドライバ】 [主な仕様] 出力ﾊﾟﾙｽ幅：300psec〜2nsec 立上／立下時間：150psec(typ.) ﾚｰｻﾞ駆動電流：700mA(max) 外部ﾄﾘｶﾞｰ：0〜200MHz 内部ﾄﾘｶﾞｰ：10kHz〜10MHz 外形寸法：320x230x132.5[mm] 【真空チャンバ（光半導体評価用）】 [主な仕様] 搭載ﾃﾞﾊﾞｲｽｻｲｽﾞ：35mm×11mm 真空度(参考値)：大気圧比10e-5程度 冷却方法：液体窒素 素子到達温度：≦100K ﾋﾞｰﾑ径：≦φ25.4mm 【低ノイズ電源ユニット】 [主な仕様] 出力電圧：(正)0〜18V／(負)-18〜0V 出力電流：≦1A 出力精度：±2% ﾘｯﾌﾟﾙﾉｲｽﾞ：≦1mVp-p 外形寸法：≦210x300x100[mm]

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