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周波数シフト帰還型レーザを用いた計測システム
当社のコア技術「周波数シフト帰還型レーザを使用した光距離計測技術」を応用した、
新しい計測システムを提供します。
当社の技術は、高精度(1σで50μm以下)、かつ高速(1000点/秒)な距離計測を可能とします。
また、専門機関による校正により、非常に高いリニアリティを有するという評価を得ております。
こうした優れた性能を生かした、幅広い計測応用が考えられます。
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【光遠隔三次元計測システム OCM−A】
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当社の距離計測技術とスキャニング機構を組み合わせた、光遠隔三次元計測装置です。 |
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「OCM-A」の製品紹介ページへ
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【光遠隔距離計測システム ODM−F】
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スキャニング機構を省き、1軸の光距離計測に特化した装置です。 |
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「ODM-F」の製品紹介ページへ
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各種計測用・分析用ツール
当社の経験から生まれた各種計測用・分析用ツールを提供します。 |
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(準備中、随時UPしていきます。) |
【超短パルスピークホールド回路モジュール】 |
【環境情報データロガー (気温、湿度を記録する小型データロガー)】 |
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